正值清華大學黃葉紛飛秋意濃的最美季節，利曼中國于2017年11月7日在熱能工程系成功舉辦元素無標精確定量技術交流會。此次會議圍繞“全反射X熒光光譜技術（TXRF）”為議題展開交流與討論，吸引了來自周邊京津冀地區環監、金屬、地質、食品、石化、教育等行業的近50位學者參會。
意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產商，其X射線產品線（XRD、TXRF）誕生于1966年，經過多年的開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。本次會議利曼中國特邀GNR公司X射線產品經理Amedeo Cinosi前來做技術報告，結合HORIZON全反射X熒光光譜儀，對TXRF技術進行了詳細闡述，獲得與會者的一致認可。
全反射X熒光光譜技術（TXRF）基于X 熒光能譜法（EDXRF），但與能譜分析有著明顯的區別：傳統EDXRF采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束可以被反射，照射在樣品表面后，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生，同時減小了載體的背景和噪聲，亦可減少樣品使用量。
與原子吸收及發射光譜方法相比，TXRF具有如下優勢：
無需復雜的樣品前處理過程，原子吸收或ICP的樣品前處理占據了整個分析過程的大部分時間，通常耗時幾個小時甚至幾天，同時TXRF能有效避免前處理引入的誤差；
對于易揮發元素有良好檢測效果，如Hg/As/Se在消解過程中會損失，Cl/Br/I等ICP檢測效果較差；
檢測元素種類更多，可達80余種, 元素分析范圍從Na覆蓋到Pu；
檢出限更低，多數元素在ppt級，尤其Pb/Rh等元素，而原子吸收或ICP為ppb級。
與ICP-MS方法相比，兩者檢出限基本持平，但TXRF可以無視ICP-MS如下痛點：
ICP-MS的耐鹽度較差，分析高鹽分樣品時檢出限差（S/Ca/Fe/K/Se等），同時酸基體對于測量影響顯著，如鹽酸、高氯酸、磷酸、硫酸會引起質譜干擾；
ICP-MS根據質核比檢測元素，當存在同質異位素時，很難準確的完成檢測；
ICP-MS需要超凈實驗室，造價昂貴；
ICP-MS運行成本高，取樣錐、渦輪泵、檢測器為易損件。
HORIZON全反射X熒光光譜儀配備12位樣品臺自動測量，創新光學編碼器的步進電機，保證精確角度測量，采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。廣泛應用在環境分析、制藥分析、法醫學、化學純度分析、油品分析、染料分析、半導體材料及核材料工業分析領域。
■ 單內標校正，有效簡化了定量分析，無基體影響；
■ 對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析；
■ 多元素實時分析，可進行痕量和超痕量分析；
■ 不受樣品的類型和不同應用需求影響；
■ 獨特的液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量小；
■ 優良的檢出限水平（pg/ppt級），元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；
■ 出色的動態線性范圍；
■ 無需任何化學前處理，無記憶效應；
■ 非破壞性分析，運行成本低廉。
會上，Amedeo Cinosi先生同時分享了部分TXRF應用報告，涵蓋白酒、奶粉、醬油、面粉、魚肝、煙草、土壤、護膚品、油品、污水等多類型樣品，最后結合HORIZON全反射X熒光光譜儀進行了測樣演示。
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